OT-DTO1 紅外焦平面探測器測試裝置
紅外焦平面探測器測試裝置以高精度的光電測試設備為測試裝置核心，建立高質量、高精度的測試系統，保證對被測紅外焦平面進行高精度的電子學參數測試。
適 用 于 短 波 紅 外 / 中 波 紅 外 / 長 波 紅 外 的 各 種 面 陣、 線 陣、 像元中心距為7.5μm/10μm/12μm/15μm/25μm/30μm 的制冷紅外焦平面陣列。
系統可實時顯示圖像，可測試像元響應率及響應率不均勻性、噪聲電壓、探測率、噪聲等效溫差、有效像元率、固定圖形噪聲、噪聲等效功率、飽和輻照功率、動態范圍、相對光譜響應、讀出速率、幀頻、串音等性能參數。
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OT-DTO1 紅外焦平面探測器測試裝置
紅外焦平面探測器測試裝置以高精度的光電測試設備為測試裝置核心，建立高質量、高精度的測試系統，保證對被測紅外焦平面進行高精度的電子學參數測試。
適 用 于 短 波 紅 外 / 中 波 紅 外 / 長 波 紅 外 的 各 種 面 陣、 線 陣、 像元中心距為7.5μm/10μm/12μm/15μm/25μm/30μm 的制冷紅外焦平面陣列。
系統可實時顯示圖像，可測試像元響應率及響應率不均勻性、噪聲電壓、探測率、噪聲等效溫差、有效像元率、固定圖形噪聲、噪聲等效功率、飽和輻照功率、動態范圍、相對光譜響應、讀出速率、幀頻、串音等性能參數。
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